據天眼查顯示，通富微電子股份有限公司 “半導體測試系統的控制方法及半導體測試系統”專利公布，申請公布日為2024年9月17日，申請公布號為CN118655433A。 

本公開涉及半導體測試領域，提供一種半導體測試系統的控制方法及半導體測試系統，測試系統包括通訊連接的測試設備和搬運設備，方法包括：測試設備通過掃描測試工單生成測試程序調用指令和控制參數調用請求指令，將二者分別發至測試程序服務器和搬運設備，接收測試程序服務器基于測試程序調用指令發送的測試程序；搬運設備將基于控制參數調用請求指令生成的控制參數調用指令發至搬運設備參數服務器，接收搬運設備參數服務器基于該指令發送的設備控制參數；測試設備基于測試程序對測試工單包括的半導體器件進行測試，搬運設備基于設備控制參數對半導體器件進行搬運。本公開可消除測試程序與搬運設備控制參數不匹配的風險，提高測試系統工作效率。