近日，泛半導(dǎo)體缺陷檢測創(chuàng)新型企業(yè)創(chuàng)銳光譜宣布完成近億元Pre-A輪融資，由光速光合領(lǐng)投，老股東君聯(lián)資本跟投，指數(shù)資本擔(dān)任獨家財務(wù)顧問。融資資金將主要用于技術(shù)研發(fā)和產(chǎn)能擴(kuò)容。

創(chuàng)銳光譜成立于2016年，是全球領(lǐng)先的瞬態(tài)光譜技術(shù)產(chǎn)業(yè)化企業(yè)，立足瞬態(tài)光譜技術(shù)，建立了從基礎(chǔ)科學(xué)研究到泛半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的全系列產(chǎn)品。歷經(jīng)多年的技術(shù)積累與深度耕耘，創(chuàng)銳光譜在光譜學(xué)系統(tǒng)、激光器、OPO、探測器、自動化等關(guān)鍵技術(shù)和核心組件及軟件與運動控制算法等方面均實現(xiàn)自研。

光速光合執(zhí)行董事郭斌表示，創(chuàng)銳光譜集結(jié)了中科院、浙江大學(xué)、埃默里大學(xué)等多家世界頂級學(xué)府及科研院所的專家團(tuán)隊，深耕工業(yè)界極為稀缺的瞬態(tài)光譜檢測技術(shù)。公司以科研市場為依托，開創(chuàng)性地開發(fā)出具有生產(chǎn)指導(dǎo)價值的新型高端檢測設(shè)備，同時突破現(xiàn)有光學(xué)檢測手段的能力邊界，有效延伸到碳化硅功率器件、鈣鈦礦光伏組件、MicroLED顯示面板等高端制造領(lǐng)域，顯著促進(jìn)了幾大新興領(lǐng)域的商業(yè)化進(jìn)程。尤其在碳化硅領(lǐng)域，已成功向國內(nèi)外龍頭企業(yè)交付了全球范圍內(nèi)首臺套該類型的高端檢測設(shè)備，樹立了行業(yè)標(biāo)桿。此外，經(jīng)過多年技術(shù)積淀，公司成功實現(xiàn)在激光器、探測器等關(guān)鍵零部件完全自主化生產(chǎn)，打破了國外巨頭的供應(yīng)鏈壟斷，構(gòu)建了極深的行業(yè)護(hù)城河。

創(chuàng)銳的科研產(chǎn)品線包括超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、超快瞬態(tài)吸收顯微成像、納秒瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、閃光光解系統(tǒng)等，其產(chǎn)品成功打破歐美等巨頭壟斷，目前已進(jìn)入國內(nèi)外近百所高校和研究機(jī)構(gòu)，超快光譜系統(tǒng)實現(xiàn)國內(nèi)市占率第一；在化合物半導(dǎo)體檢測產(chǎn)品領(lǐng)域，創(chuàng)銳光譜構(gòu)建了從襯底到外延的一站式檢測方案；在泛半導(dǎo)體其他領(lǐng)域，已實現(xiàn)鈣鈦礦光伏面板、第二代半導(dǎo)體晶圓和芯片和microLED等多個不同場景檢測技術(shù)和設(shè)備的落地，不斷拓寬市場和技術(shù)的邊界。

創(chuàng)銳光譜CEO陳俞忠博士表示，近一年來創(chuàng)銳光譜在SiC晶圓缺陷檢測方面取得了巨大的技術(shù)突破，成功開發(fā)了襯底/外延位錯缺陷無損檢測、點缺陷檢測、高速載流子壽命檢測等多種專用設(shè)備，在全球范圍內(nèi)首次解決了SiC襯底位錯缺陷無損檢測的世界性難題，該突破性技術(shù)也不斷得到行業(yè)認(rèn)可，相關(guān)DiSpec系列檢測設(shè)備已實現(xiàn)全球首套落地，并同步發(fā)運國際和國內(nèi)頭部客戶。

本輪融資后，創(chuàng)銳光譜將持續(xù)加大研發(fā)投入力度，加速推進(jìn)SiC晶圓缺陷檢測、鈣鈦礦光伏面板檢測等多種工業(yè)檢測產(chǎn)品的市場導(dǎo)入， 實現(xiàn)批量出貨目標(biāo)。