5月29日，JBD宣布成功將MicroLED微顯示的壞點(diǎn)數(shù)從單屏≤100個(gè)降至≤3個(gè)。這一突破不僅標(biāo)志著MicroLED微顯示達(dá)到了LCD等成熟顯示技術(shù)的品控水準(zhǔn)，更樹(shù)立了MicroLED微顯示行業(yè)壞點(diǎn)指標(biāo)的新基準(zhǔn)。

壞點(diǎn)品控新水準(zhǔn)

壞點(diǎn)與暗點(diǎn)的數(shù)量一直是衡量MicroLED微顯示產(chǎn)品可靠性和技術(shù)成熟度的關(guān)鍵指標(biāo)。此前，受限于技術(shù)水平和生產(chǎn)工藝，行業(yè)內(nèi)普遍面臨單屏壞點(diǎn)數(shù)量接近100個(gè)的技術(shù)瓶頸，這在一定程度上阻礙了消費(fèi)級(jí)AR終端的普及應(yīng)用。為了打破這一技術(shù)制約，JBD近年來(lái)持續(xù)深入MicroLED微顯示核心技術(shù)研究，將微顯示屏的壞點(diǎn)數(shù)降至單屏≤3個(gè)，其中0壞點(diǎn)完美屏的比例大幅提升。

不止于此，暗點(diǎn)同樣是MicroLED微顯示領(lǐng)域長(zhǎng)期被忽視的技術(shù)挑戰(zhàn)，它直接影響畫(huà)面均勻性與成像質(zhì)量。通過(guò)技術(shù)升級(jí)，JBD將單屏暗點(diǎn)率從高達(dá)0.4%降至0.03%的極低水平，再結(jié)合JBD獨(dú)有的Demura像素亮度補(bǔ)償算法，大幅度提高像素亮度均勻性。

壞點(diǎn)與暗點(diǎn)對(duì)顯示質(zhì)量和用戶體驗(yàn)有著較大的影響，死點(diǎn)會(huì)在圖像中形成明顯的黑色斑點(diǎn)，破壞畫(huà)面的完整性和細(xì)節(jié)表現(xiàn)；暗點(diǎn)則會(huì)使圖像出現(xiàn)灰暗瑕疵，影響色彩準(zhǔn)確性和畫(huà)面均勻性。在高對(duì)比度或明亮場(chǎng)景中，這些缺陷尤為顯眼，容易分散用戶注意力，降低視覺(jué)沉浸感。減少壞點(diǎn)和暗點(diǎn)，可以有效避免圖像殘缺、顏色暗淡失真等問(wèn)題，顯著提升畫(huà)面的完整性和均勻性，在提升AR近眼顯示場(chǎng)景的視覺(jué)質(zhì)量方面起著至關(guān)重要的作用。

技術(shù)工藝、設(shè)備管理全方位改進(jìn)

提升微顯示屏壞點(diǎn)和暗點(diǎn)的品控水準(zhǔn)是一項(xiàng)復(fù)雜的系統(tǒng)工程，上述突破性進(jìn)展得益于JBD在技術(shù)迭代、工藝優(yōu)化、缺陷分析及精益管理等多方面的持續(xù)投入與協(xié)同發(fā)力。

技術(shù)層面，JBD通過(guò)改善外延結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)材料密度的均勻分布。同時(shí)，創(chuàng)新的工藝確保像素級(jí)的均勻驅(qū)動(dòng)。設(shè)備和制造方面，引進(jìn)先進(jìn)設(shè)備提升加工精度。生產(chǎn)管理方面，在各道工藝增設(shè)檢測(cè)流程，對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)進(jìn)行嚴(yán)格監(jiān)控與精準(zhǔn)治理，確保整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程符合最高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

以上不僅是JBD技術(shù)創(chuàng)新與生產(chǎn)工藝大幅提升的體現(xiàn)，更標(biāo)志著MicroLED微顯示正在步入應(yīng)用成熟期。隨著AI技術(shù)的飛速發(fā)展，人們對(duì)輕量化AR眼鏡作為全天候AI助手的需求日益增長(zhǎng)。MicroLED微顯示技術(shù)憑借其高亮度、小體積、低功耗等卓越表現(xiàn)，正逐漸成為輕量化AR眼鏡的首選方案。壞點(diǎn)和暗點(diǎn)品控水準(zhǔn)的大幅進(jìn)步，將進(jìn)一步鞏固JBD在近眼顯示場(chǎng)景的優(yōu)勢(shì)。

來(lái)源：JBD顯耀顯示